WERTH為2017年Control展隆重推出研發(fā)的傳感器系列：線(xiàn)色譜傳感器（Chromatic Focus Line Sensor, CFL）。其可以快速采集整個(gè)零件的幾何形狀。通過(guò)選用不同的物鏡，調節測量誤差和測量范圍來(lái)適應各種應用需求。通過(guò)大的軸向測量范圍，不需要針對零件幾何形狀的可控的補充。以便通過(guò)掃描，快速并大面積獲取零件幾何形狀。針對表面有明顯高度變化的零件可以采用3D仿樣進(jìn)行掃描。線(xiàn)色譜傳感器可以用于測量漫反射、鏡面和透明零件以及有較大傾斜角的零件表面。
CFL在零件表面投影一排約200個(gè)白色光點(diǎn)。從零件表面反射回的光線(xiàn)將通過(guò)光譜分析，確定傳感器和零件表面之間的距離。通過(guò)新的線(xiàn)傳感器*次實(shí)現了高速并且高精度地、完整地采集零件3D數據。僅僅用3秒鐘就能夠測量100萬(wàn)個(gè)測量點(diǎn)。
線(xiàn)色譜傳感器還具有另一個(gè)有趣的功能：反射回的光的波長(cháng)強度被分析評估，并創(chuàng )建零件表面的柵格圖像。其后續的分析評估允許通過(guò)圖像處理軟件“在圖像內”確定零件坐標系或者測量幾何特征。在此基礎上，由于位置的確定，可以不需要傳感器轉換就使用各種其他傳感器進(jìn)行測量。
在快速的測量速度下，CFL的測量度允許測量精密零件和微特征。該傳感器不僅可以用于鏡面或者透明零件如沖壓印?；蛘哂操|(zhì)合金及金剛石刀具的測量，也可以用于漫反射的塑料零件的測量。通過(guò)高點(diǎn)密度來(lái)確定不同表面的形貌。例如微機械零件手表表盤(pán)。CFL的另一個(gè)典型應用是在半導體技術(shù)領(lǐng)域，在生產(chǎn)工序中，對于LED陣列的共面的測量。作為測量結果，是以點(diǎn)云的形式體現零件表面的完整形狀，借此測量平面度或者粗糙度以及幾何元素。也可以用顏色編碼顯示出理論實(shí)際值偏差。
線(xiàn)色譜傳感器測量的點(diǎn)云數據和CAD模型的顏色編碼偏差顯示
手表表盤(pán)的柵格圖像